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M1 MISTRAL鍍層測厚儀

品 牌:Bruker

產 地:德國

型 號:M1 MISTRAL

關鍵詞標簽:布魯克鍍層測厚儀;X射線測厚儀;X射線測厚儀;M1 MISTRAL;膜厚儀
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用于大件樣品和多層膜樣品的非破壞分析

       M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術的光譜儀,可對大件樣品和鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍:原子序數22號(鈦)-92號(鈾)中的所有元素。分析的樣品類型:各種不同材料,如金屬、合金、塊體、溶液等。

       480×490×200mm³的大腔體支持更大樣品的測量。自動X-Y-Z軸程控樣品臺,大移動范圍200×175×80mm,支持自動多點測量。

       M1 MISTRAL 是一款緊湊型的臺式 μ-XRF 光譜儀,用于分析塊狀材料和涂層。它的操作速度快、成本效益, 可以提供與材料元素成分有關的準確信息。測定鍍層樣品厚度及成分例如
Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pb-Ni-Cu

 

珠寶及合金分析:
       M1 MISTRAL是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具。所有珠寶合金、鉑族金屬及銀制品、不到1分鐘就可以確定其準確成分。分析結果可以用百分含量或K(開)表示
       M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術的光譜儀,可對大件樣品和鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍:原子序數22號(鈦)以上的所有元素。分析的樣品類型:各類不同的材料,如金屬、合金、金屬鍍層包括多層鍍層樣品
       樣品尺寸zui大可達100×100×100mm,無需任何處理,直接放在樣品臺上檢測。
光管位于樣品上方,測量過程中部接觸樣品,因此可以很容易地分析復雜式樣的樣品,如精工細作的珠寶和不容厚度的樣品。

 

各種應用介紹:

·  通用金屬分析

M1 MISTRAL是通用金屬鍍層分析的理想工具,對緊固件、五金材料、汽車零部件鍍層、高精度的機械部件都能進行準確、便捷的分析。
·  電子/PCB
采用X-Ray熒光技術的M1 MISTRAL也可分析薄鍍層樣品,如印刷電路板、引線框架、圓晶、連接器等,M2 BLIZZARD采用開放腔體,可對大型電路板進行測量。

·  珠寶及合金分析

M1 MISTRAL是珠寶。硬幣及貴金屬的理想分析工具。所有珠寶合金,30S就可以確定其準確成分。分析結果可以用百分含量或K(開)表示。

 

 

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