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反射膜厚儀-MProbe系列

品 牌:Semiconsoft

產 地:德國

型 號:MProbe系列

關鍵詞標簽:反射膜厚儀;膜厚測試儀;反射式膜厚儀;反射光譜干涉法;Semiconsoft;MProbe
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產品概述

當一束光入射到薄膜表面時,薄膜上表面和下表面的反射光會發生干涉,干涉的發生與薄膜厚度及光學常數等有關,反射光譜薄膜測厚儀就是基于此原理來測量薄膜厚度。

反射光譜干涉法是一種非接觸式、無損的、精確且快速的光學薄膜厚度測量技術。

測量范圍: 1 nm - 1 mm

波長范圍: 200 nm -8000 nm

光斑尺寸:2mum -3 um

 

產品特點:

a. 高的測量精度:0.01nm或0.01%

b. 準確度:1nm或0.2%

c. 穩定性:0.02nm或0.02%

d. 強大的軟件材料庫,包含500多種材料的光學常數

e. 通過Modbus TCP或OPC協議,與其他設備聯用

適用于實時在線測量,多層測量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等

大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。比如:氧化物,氮化物,光刻膠,高分子聚合物,半導體(硅,單晶硅,多晶硅),半導體化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂層(碳化硅,類金剛石炭),聚合物涂層(聚對二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)

 

標準配置中包含:

1. 主機(光譜儀,光源,電線)

2. 反射光纖

3. 樣品臺及光纖適配器

4. TFCompanion軟件

5. 校準套裝

6. 測試樣品,200nm晶圓

多種型號可選,每個型號對應不同的測量范圍:

測量n和k值,其厚度范圍需在25納米和5微米之間

 

廣泛的應用于各種工業生產及工藝監控中:

半導體晶圓,薄膜太陽能電池,液晶平板,觸摸屛,光學鍍膜,聚合物薄膜等

半導體制造:· 光刻膠          · 氧化物        · 氮化物

光學鍍膜:· 硬涂層          · 抗反射涂層         · 濾波片

生物醫學:· 聚對二甲苯         · 生物膜厚度         · 硝化纖維

 

 

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