鉑悅儀器(上海)有限公司

您當前的所在位置為:首頁??>??產品中心??>???微區X射線熒光光譜儀??>??超輕元素微區X射線熒光成像光譜儀 M4 TORNADO PLUS

超輕元素微區X射線熒光成像光譜儀 M4 TORNADO PLUS

品 牌:Bruker

產 地:德國

型 號:M4 TORNADO PLUS

關鍵詞標簽:微區X射線熒光光譜儀,M4 TORNADO PLUS,X射線熒光成像光譜儀,微區XRF
021-37018108在線留言

M4 TORNADOPLUS - 微區X射線熒光成像的新紀元

M4 TORNADOPLUS是世界上第yi臺能夠檢測出C(6)-Am(95)間全部元素的微區X射線熒光成像光譜儀。

作為微區X射線熒光成像光譜儀M4TORNADO系列的zui新產品,M4 TORNADOPLUS又增添了獨特的功能,例如創新性的孔徑管理系統,高通量脈沖處理器以及快速靈活更換的樣品臺。

更輕、更快、更深

M4 TORNADOPLUS采用超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器(SDD)實現對輕元素碳的檢測,超高通量脈沖可以zui大程度提升采樣速度,BRUKER專利孔徑管理系統(AMS)可以獲取超大景深,對表面不平整樣品分析具有獨特的優勢。

超輕元素檢測

M4 TORNADOPLUS是史上第yi臺能夠檢測分析輕質元素碳的微區X射線熒光成像光譜儀,具備兩個具有超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器和一個特別優化的Rh靶X射線光管。

與普通微區X射線熒光成像光譜儀不同,M4 TORNADOPLUS在不影響較高能量范圍內元素靈敏度的前提下,還可以檢測原子數小于11的元素(Z<11),例如氟(F)、氧(O)、氮(N)和碳(C)。

隨著功能性的增強,M4 TORNADOPLUS應用也正在開發和拓展中,例如地質學、礦物學、生物學、聚合物研究或半導體行業等方向。

應用實例-螢石和方解石的區分

螢石(CaF2)和方解石(CaCO3)都是以鈣為主要成分的礦物。它們的區別在于分別存在輕質元素氟(F),氧(O),碳(C);由于普通微區X射線熒光成像光譜儀檢測不到Z<11(Na)的元素,無法區分這兩種礦物,所以螢石和方解石的光譜圖上都只會顯示Ca元素譜線。

利用超輕元素探測器,M4 TORNADOPLUS可以檢測氟(F)、氧(O)和碳(C),從而可靠地鑒別這兩種礦物。

圖:鑒別螢石與方解石 

左:方解石(紅)和螢石(藍)的元素分布圖;圖像尺寸:20×12mm2;掃描分辨率:800×460pixels             

右:螢石(藍)和方解石(紅)的輕質元素光譜圖。

應用實例-電路板

由于AMS的場深度極深,如圖所示電路板的X射線圖像獲得更多的細節。此外,由于激發X射線光子的入口和出口角度減小,光束能量依賴性變得不那么明顯。

圖:具備AMS與不具備AMS的電路板元素分布圖

左圖: 標準多導毛細管聚焦在電路板上,元件的zui高點失焦,顯得模糊。

右圖: AMS系統加載下圖像顯示高景深,所有組件聚焦在更大的景深范圍內。

 

 

點擊了解更多產品信息

馬上聯系我們的應用團隊:[email protected]

 

 

在線留言
聯系我們

電話:86-021-37018108

傳真:86-021-57656381

郵箱:[email protected]

地址:上海市松江區莘磚公路518號松江高科技園區28幢301室

掃碼關注
Copyright ? 2013 鉑悅儀器(上海)有限公司? 版權所有 備案號:滬ICP備10038023號-1
惊喜复活节彩金